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基于半导体激光器的热电偶时间常数测试系统及不确定度分析

发布时间:2017-12-07 19:22  文章来源:笔耕文化传播

  本文关键词:基于半导体激光器的热电偶时间常数测试系统及不确定度分析


  更多相关文章: 激光器 半导体激光器 热电偶 时间常数 不确定度


【摘要】:针对热电偶时间常数的测试,采用上升时间为0.6μs、功率为500 W的半导体激光器取代CO2激光器作为激励源,通过对激光光束的整形优化,在20V工作电压和20A工作电流条件下,利用半导体激光器在热电偶测温端形成1050℃阶跃温度。对测量结果进行小波降噪处理,建立测量模型。分析测量结果的不确定度来源,评定测量结果不确定度。实验测得时间常数为1.3268s,扩展不确定度为1.12ms。通过提高激光器输出功率,可在热电偶测温端产生更高的阶跃温度,以实现大量程热电偶时间常数的测试。
【作者单位】: 中北大学电子测试技术国家重点实验室;
【基金】:国防基础科研项目(JSJC2013408C009) 国家自然科学基金(61473267)
【分类号】:TH811;TN248.4
【正文快照】: 温度是生产过程中最重要的参数之一,随着温度动态测试需求与日俱增,温度传感器动态特性引起研究者们越来越多的重视[1]。热电偶具有结构简单、测温范围广、准确度高等优点,是应用最广泛的温度传感器。热电偶时间常数是指热电偶对阶跃温度响应输出达到阶跃温度量的63.2%所需要

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